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【填空题】

X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）

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第1题

[] X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？

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第2题

[填空题] 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。

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第3题

[] X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。

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第4题

[填空题] X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。

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第5题

[判断题] X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。

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第6题

[判断题] X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

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第7题

[判断题] X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

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第8题

[判断题] X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

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第9题

[判断题] X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。

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