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【判断题】
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
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更多“X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。”相关的问题
第1题
[判断题]
X
射
线
荧光
光谱
分析
康普顿散
射
线
内标
法
是根据靶
线
的
康普顿散
射
线
的
强度
很敏感地受样品成分
的
影响而设计
的
分析
方
法
。
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第2题
[判断题]
X
射
线
荧光
光谱
内标
法
，即把一定量
的
内标元素加入到标准试料及
分析
试料中，以标准试料中
分析
元素
与
内标元素
的
X
射
线
荧光
强度
比
与
分析
元素含量绘制校准曲
线
。测定
分析
试料
的
分析
元素
与
内标元素
的
X
射
线
荧光
强度
比，从校准曲
线
求得
分析
元素含量。
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第3题
[判断题]
X
射
线
荧光
光谱
分析
散射背景内标
法
是用由连续谱
线
的
散
射
线
构成
的
本底（背景）为内标
的
校正方
法
。
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第4题
[填空题]
X
射
线
荧光
光谱
法
分析
金属样品，
分析
面
的
光洁程度直接影响（）
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第5题
[]
X
射
线
荧光
光谱
法
分析
金属样品，对
分析
面
的
要求是什么？
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第6题
[判断题]
X
射
线
荧光
光谱
分析
康普顿散
射
线
内标
法
不能校正基体
的
吸收效应，只能校正增强效应。
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第7题
[填空题]
X
射
线
荧光
光谱
法
的
分析
过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后
的
各单色
X
射
线
荧光
进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量
分析
结果。
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第8题
[判断题]
X
射
线
荧光
光谱
分析
中，连续
光谱
激发样品时，连续
光谱
中
的
散
射
线
是构成背景
的
主要来源，会影响
分析
元素
的
检测限，尤其对痕量元素。
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第9题
[多选题]
X
射
线
荧光
分析
中特征
X
射
线
光谱
是由一组表示发光元素
的
（）波长所组成，其中各条特征谱
线
的
（）
强度
各不相同。
A、不连续 B、连续 C、散射 D、相对
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