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【判断题】

X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。

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第1题

[判断题] X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。

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第2题

[判断题] X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。

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第3题

[判断题] X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

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第4题

[判断题] X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

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第5题

[单选题] X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是构成（）的主要成分。

A、激发 B、叠加 C、散射 D、背景

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第6题

[判断题] X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。

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第7题

[填空题] X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。

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第8题

[填空题] 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。

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第9题

[填空题] X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）

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