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【填空题】
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。
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更多“采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。”相关的问题
第1题
[填空题]
X
射线
荧光
光谱
法
中,处理
粉末
样品
的方
法
主要有压片
法
和()
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第2题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
康普顿散
射线
内标
法
是根据靶线的康普顿散
射线
的强度很敏感地受
样品
成分
的影响而设计的
分析
方
法
。
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第3题
[]
X
射线
荧光
光谱
法
测定铁水
成分
,只需
样品
大小合适,对检测表面制样没什么要求。
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第4题
[填空题]
X
射线
荧光
光谱
法
分析
金属
样品
,
分析
面的光洁程度直接影响()
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第5题
[]
X
射线
荧光
光谱
法
分析
金属
样品
,对
分析
面的要求是什么?
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第6题
[]
X
射线
荧光
光谱
法
中,
分析
微量Si的
样品
不能用()磨料抛光。
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第7题
[填空题]
X
射线
荧光
光谱
法
中,
分析
微量Al的
样品
不能用()磨料抛光。
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第8题
[]
X
射线
荧光
仪在以
X
射线
管作为激发源时,原级
X
射线
光谱
中特征
光谱
是用于激发
样品
的主要光源。
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第9题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
中,连续
光谱
激发
样品
时,连续
光谱
中的散
射线
是构成背景的主要来源,会影响
分析
元素的检测限,尤其对痕量元素。
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