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【问答题】

X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？

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第1题

[填空题] X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）

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第2题

[填空题] 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。

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第3题

[判断题] X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

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第4题

[判断题] 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

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第5题

[填空题] X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。

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第6题

[] X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。

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第7题

[填空题] X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。

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第8题

[判断题] X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。

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第9题

[判断题] X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

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