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【判断题】
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
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更多“X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。”相关的问题
第1题
[判断题] 在
X
射线
荧光
光谱
分析
中,样品中除
分析
元素以外
的
全部元素为
基体
,
基体
元素对
分析
元素
的
影响叫
基体
效应
。
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第2题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
中,当
基体
效应
是增强
效应
时
,将使所得被测元素
的
结果偏低。
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第3题
[单选题]
X
射线
荧光
分析
时
基体
效应
的
基体
,是指
分析
时
试样中除()元素本身外其它所有
的
元素。
A、气体 B、惰性 C、
分析
D、氧化性
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第4题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
康普顿散
射线
内标法不能校正
基体
的
吸收
效应
,只能校正增强
效应
。
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第5题
[单选题] 不影响
X
荧光
分析
的
主要因素有()。
A、粒度
效应
B、矿物
效应
C、
基体
效应
D、
光电
效应
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第6题
[]
X
射线
荧光
光谱仪和
光电
直
读光谱仪一样,都是采用光栅作为分光元件。
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第7题
[多选题]
X
射线
荧光
光谱
分析
的
基体
效应
的
数学校正一般分为三类,即()。
A、经验系数法 B、计算法 C、基本参数法 D、理论影响系数法
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第8题
[判断题] 如果
基体
效应
影响测定结果,当影响不是很大
时
,可采用预先分离
基体
的
测量方法。若
基体
效应
严重地影响测定结果
时
,则只能用标准加入测量法来消除。()
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第9题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱内标法,即把一定量
的
内标元素加入到标准试料及
分析
试料中,以标准试料中
分析
元素
与
内标元素
的
X
射线
荧光
强度比
与
分析
元素含量绘制校准曲线。测定
分析
试料
的
分析
元素
与
内标元素
的
X
射线
荧光
强度比,从校准曲线求得
分析
元素含量。
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