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【判断题】

X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。

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第1题

[判断题] X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。

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第2题

[判断题] 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

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第3题

[判断题] X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

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第4题

[填空题] 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。

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第5题

[多选题] X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。

A、经验系数法 B、计算法 C、基本参数法 D、理论影响系数法

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第6题

[单选题] X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。

A、气体 B、惰性 C、分析 D、氧化性

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第7题

[判断题] X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。

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第8题

[判断题] X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

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第9题

[判断题] X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

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