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【多选题】
X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类,即()。
A、经验系数法
B、计算法
C、基本参数法
D、理论影响系数法
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更多“X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类,即()。”相关的问题
第1题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
康普顿散
射线
内标法不能
校正
基体
的
吸收
效应
,只能
校正
增强
效应
。
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第2题
[判断题] 在
X
射线
荧光
光谱
分析
中,样品中除
分析
元素以外
的
全部元素为
基体
,
基体
元素对
分析
元素
的
影响叫
基体
效应
。
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第3题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
中,当
基体
效应
是增强
效应
时,将使所得被测元素
的
结果偏低。
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第4题
[判断题]
X
射线
荧光
分析
时
基体
效应
的
基体
与光电直读
光谱
分析
用
的
铁基样品、镍基样品、铬基样品
的
铁基、镍基、铬基含意是
一
样
的
。
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第5题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
散射背景内标法是用由连续谱线
的
散
射线
构成
的
本底(背景)为内标
的
校正
方法。
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第6题
[单选题]
X
射线
荧光
分析
时
基体
效应
的
基体
,是指
分析
时试样中除()元素本身外其它所有
的
元素。
A、气体 B、惰性 C、
分析
D、氧化性
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第7题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
内标法,即把
一
定量
的
内标元素加入到标准试料及
分析
试料中,以标准试料中
分析
元素与内标元素
的
X
射线
荧光
强度比与
分析
元素含量绘制校准曲线。测定
分析
试料
的
分析
元素与内标元素
的
X
射线
荧光
强度比,从校准曲线求得
分析
元素含量。
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第8题
[填空题]
X
射线
荧光
光谱
法
的
分析
过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后
的
各单色
X
射线
荧光
进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量
分析
结果。
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第9题
[简答题] 利用
X
射线
荧光
光谱
技术对元素进行定性和定量
分析
的
理论依据是什么?
X
射线
荧光
谱所
分析
的
元素范围
一
般从铍(B)—铀(U),为什么不能
分析
轻元素(氢、氦和锂)?
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