【多选题】
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A、均匀性
B、粒度效应
C、辐射
D、吸收-增强效应
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A、均匀性
B、粒度效应
C、辐射
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