A、危害性
B、裂纹
C、复探
D、超声波
A、危害性 B、裂纹 C、复探 D、超声波
A、缺陷存在的位置;裂纹的尺寸 B、裂纹存在的位置;缺陷的性质 C、缺陷存在的位置;缺陷的性质 D、裂纹存在的位置;裂纹的尺寸
A、A.缺陷存在的位置裂纹的尺寸 B、B.裂纹存在的位置缺陷的性质 C、C.缺陷存在的位置缺陷的性质 D、D.裂纹存在的位置裂纹的尺寸
A、透声灵敏度、大裂纹扫查 B、测距、大裂纹扫查 C、透声灵敏度、磁粉探伤
A、反射法 B、穿透法 C、底面多次回波法 D、底面一次回波反射法法
A、取界面波与第一次底波间的声程。 B、最后两次底波间的声程。 C、取底面回波次数愈多,测定结果的精度愈高。 D、取第三次与第四次底波间的声程。
A、 耦合不良 B、 存在与声束不垂直的缺陷 C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D、 以上都可能
A、 底面回波降低或消失 B、 底面回波不降低 C、 底面回波变窄 D、 以上都不对
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