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【简答题】

X-荧光光谱测定时放置样品时的有什么要求？

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第1题

[] X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。

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第2题

[判断题] X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

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第3题

[判断题] X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

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第4题

[] X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。

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第5题

[] X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？

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第6题

[填空题] X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）

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第7题

[单选题] 由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。

A、光子 B、荧光 C、光谱 D、线束

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第8题

[多选题] X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。

A、组成 B、制样方法 C、样品无裂纹 D、样品无气孔

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第9题

[填空题] 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。

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