A、温度 B、掺杂工艺 C、杂质浓度 D、晶体缺陷
A、温度 B、掺杂工艺 C、掺杂浓度 D、晶格缺陷
A、晶体缺陷 B、温度 C、杂质浓度 D、掺杂工艺
A、与掺杂浓度和温度无关 B、只与掺杂浓度有关 C、只与温度有关 D、与掺杂浓度和温度有关
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