题目内容 （请给出正确答案） 提问人：网友 发布时间： 【单选题】 半导体应变片在测量某一构件的应变时，引起其电阻相对变化的原因为（ ）。 A、应变片几何尺寸的变化B、半导体材料的弹性模量的变化C、半导体电阻率的变化D、半导体材料压阻系数的变化 查看正确答案
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