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【单选题】

半导体电阻应变片在测量某一构件应变时,其电阻的相对变化主要是由( )引起。

A、半导体电阻率的变化

B、半导体几何尺寸的变化;

C、贴片位置的温度变化

D、供桥电源的变化

更多“半导体电阻应变片在测量某一构件应变时,其电阻的相对变化主要是由( )引起。”相关的问题
第1题

A、应变几何尺寸的变化  B、导体材料的弹性模量的变化  C、导体电阻率的变化  D、导体材料压阻系数的变化  

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第6题

A、贴位置的温度变化  B、电阻丝几何尺寸的变化  C、电阻材料电阻率的变化  D、以上均可  

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