A、可变角的探头
B、直探头
C、斜探头
D、收/发联合双晶探头
A、可变角探头 B、直探头 C、斜探头 D、收发联合双晶探头
A、射线检验 B、超声波探伤 C、磁粉探伤 D、渗透探伤
A、可变角探头 B、直探头 C、斜探头 D、收/发联合双晶探头
A、 内部气孔 B、 中部裂纹 C、 表面开口缺陷 D、 近表面缺陷
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