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【判断题】

检验近表面缺陷的方法是采用垂直探头。

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第2题

A、可变角探头  B、直探头  C、斜探头  D、收发联合双晶探头  

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第4题

A、可变角探头  B、直探头  C、斜探头  D、收/发联合双晶探头  

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第5题

A、可变角探头  B、直探头  C、斜探头  D、收/发联合双晶探头  

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第6题

A、聚焦探头  B、直探头  C、斜探头  D、串列双斜探头  

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第7题

A、射线检验  B、超声波探伤  C、磁粉探伤  D、渗透探伤  

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第8题

A、耦合不良  B、存在与声束不垂直平面缺陷  C、存在与始脉冲不能分开表面缺陷  D、以上都  

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第9题

A、耦合不良  B、存在与声束不垂直平面缺陷  C、耦合太好  D、存在与始脉冲不能分开表面缺陷  

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