A、可变角探头 B、直探头 C、斜探头 D、收发联合双晶探头
A、可变角的探头 B、直探头 C、斜探头 D、收/发联合双晶探头
A、可变角探头 B、直探头 C、斜探头 D、收/发联合双晶探头
A、聚焦探头 B、直探头 C、斜探头 D、串列双斜探头
A、射线检验 B、超声波探伤 C、磁粉探伤 D、渗透探伤
A、耦合不良 B、存在与声束不垂直的平面缺陷 C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D、以上都是
A、耦合不良 B、存在与声束不垂直的平面缺陷 C、耦合太好 D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
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