A、可变角探头
B、直探头
C、斜探头
D、收发联合双晶探头
A、可变角的探头 B、直探头 C、斜探头 D、收/发联合双晶探头
A、可变角探头 B、直探头 C、斜探头 D、收/发联合双晶探头
A、射线检验 B、超声波探伤 C、磁粉探伤 D、渗透探伤
A、表面缺陷 B、内部缺陷 C、表面和近表面缺陷 D、以上都可以
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