A、小K值探头 B、大K值探头 C、软保护膜探头 D、高频探头
A、探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出 B、裂纹表面不光滑对回波强度影响越大 C、杂波太多 D、AB都对
A、A.①②③⑤ B、B.①②③ C、C.②⑤⑥ D、D.④⑤⑥
A、直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最容易探测到 B、直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最容易探测到 C、直接通电磁化时，与电流方向无关，任何方向的缺陷都能探出 D、用线圈法磁化时，与线圈内电流方向垂直的缺陷最容易探出
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