磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。

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第1题

[填空题] 磁粉探伤中，为有效地检出试件表面缺陷，宜采用（）电流磁化试件；为了有效地检出近表面缺陷，宜采用（）电流磁化试件

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第2题

[单选题] 磁粉探伤操作时磁化是首先根据缺陷特性与试件形状选定磁化方法，在根据磁化方法，磁粉，试件的材质、形状、尺寸等确定磁化电流值，使试件表面有效磁场的磁通密度达到试件材料饱和磁通密度的（）。

A、100% B、80%～90% C、65%～80% D、30%～50%

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第3题

[] （）操作时磁化是首先根据缺陷特性与试件形状选定磁化方法，在根据磁化方法，磁粉，试件的材质、形状、尺寸等确定磁化电流值，使试件表面有效磁场的磁通密度达到试件材料饱和磁通密度的80%～90%。

A、A.渗透检测 B、B.频谱检测 C、C.磁粉探伤 D、D.超声波检测

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第4题

[填空题] 平行或接近于试件表面的键槽或钻孔会产生与试件内部形状对应的（）的磁痕

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第5题

[单选题] 对三个直径为30mm、长为50mm，有周向缺陷的圆柱体试件进行磁粉探伤时，正确的操作工艺是（）

A、将三个试件沿轴向联接在一起，平行于线圈轴置入线圈中。用连续法施加磁粉，先取中间的试件进行观察，然后再将端部的一个换入中间，重复进行探伤 B、将单个试件放入线圈中央，用连续法施加磁粉进行观察 C、把三个试件沿轴向联接在一起，用轴向通电法磁化，用连续法进行探伤 D、单个用轴向通电法磁化，连续法进行探伤