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提问人:网友 发布时间:
【简答题】

在掺入硼的非简并p型硅样品中含有一定浓度的铟,在室温下电阻率为2.84Ω˙cm,已知所掺硼的浓度N<sub>a1</sub>=10<sup>16</sup>10/cm<sup>3</sup>,硼的电离能E<sub>a1</sub>-Ev=0.045eV,铟的电离能E<sub>a2</sub>-Ev=0.16eV,求样品中铟的浓度。Nv=1.04×10<sup>19</sup>/cm<sup>3</sup>,μ<sub>p</sub>=200cm<sup>2</sup>/v˙s。

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第2题

A、制造半导体器体,常使扩散到单晶,若1600K温度下,保持单晶表面的浓度恒定(恒定源半无限扩散),要求距表面10p>-3p>cm深度处浓度是表面浓度的一半,问需要多长时间(已知D1600℃=8×10p>-12p>cmp>2p>/s;当时,)?&nbsp;&nbsp;

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第4题

A、&nbsp;&nbsp;B、锗&nbsp;&nbsp;C、&nbsp;&nbsp;D、磷&nbsp;&nbsp;

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第6题

A、N整流二极管&nbsp;&nbsp;B、P型锗整流二极管&nbsp;&nbsp;C、N整流稳压二极管&nbsp;&nbsp;D、P型锗整流开关二极管&nbsp;&nbsp;

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第7题

A、锗&nbsp;&nbsp;B、磷&nbsp;&nbsp;C、&nbsp;&nbsp;D、锡&nbsp;&nbsp;

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第8题

A、掺入有毒.有害食品原料的,或者销售明知掺有有毒.仃害食品原料的食品的&nbsp;&nbsp;B、掺入有毒.有害食品原料,造成食物毒事故的&nbsp;&nbsp;C、任意使用食品添加剂,造成严重后果的&nbsp;&nbsp;D、掺入有毒.有害的食品原料,致人死亡的&nbsp;&nbsp;

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第9题

A、空穴的浓度大大高于自由电子的浓度&nbsp;&nbsp;B、自由电子的浓度大大高于空穴的浓度&nbsp;&nbsp;C、空穴和自由电子的浓度不变&nbsp;&nbsp;

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