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【判断题】

对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

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更多“对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。”相关的问题

第1题

[判断题] 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。

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第2题

[判断题] 千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。

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第3题

[简答题] 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？

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第4题

[简答题] 测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？

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第5题

[填空题] 外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。

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第6题

[判断题] 用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度，测量结果可能产生一个合格，一个不合格。

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第7题

[简答题] 怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？

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第8题

[] 用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。

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第9题

[判断题] 测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。

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