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【填空题】

用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。

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第1题

[判断题] 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。

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第2题

[] 对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

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第3题

[] 使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。

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第4题

[判断题] 千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。

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第5题

[简答题] 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？

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第6题

[简答题] 测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？

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第7题

[简答题] 怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？

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第8题

[填空题] 外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。

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第9题

[简答题] 检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？

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