【单项选择题】
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）
A、A.单斜探头法
B、B.单直探头法
C、C.双斜探头前后串列法
D、D.分割式双直探头法
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第4题
A、直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最容易探测到 B、直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最容易探测到 C、直接通电磁化时，与电流方向无关，任何方向的缺陷都能探出 D、用线圈法磁化时，与线圈内电流方向垂直的缺陷最容易探出
