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提问人:网友 发布时间:
【单选题】

晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为()

A、直射法

B、斜射法

C、表面波法

D、上述三种都不对

更多“晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为()”相关的问题
第1题

A、A.任何走向的缺陷。  B、B.工件探测走向平行的缺陷。  C、C.工件探测走向垂直的缺陷。  D、D.比较薄的板材零件内的缺陷。  

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第2题

A、平行探测  B、探测倾斜  C、垂直探测  

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第5题

A、探测必须无锈蚀、氧化皮。  B、探测无焊接飞溅及其他阻碍良好耦合的杂质。  C、必须清除显著影响检验的表观缺陷。  D、以上全达到。  

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第9题

A、防止探头磨损  B、消除探头探测之间的空气  C、有利探头滑动  D、防止工件生锈  

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