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【单选题】
X射线光谱分析中是以()为分析依据的。
A、连续光谱
B、特征光谱
C、锐线光源
D、高速电子流
查看正确答案
更多“X射线光谱分析中是以()为分析依据的。”相关的问题
第1题
[填空题]
X
射线
光谱
分析
中
是以
特征
光谱
线
为
()
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第2题
[判断题]
X
射线
荧光
分析
中
特征
X
射线
光谱
的
产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子
的
能量激发,第二步则
是以
特征
X
射线
(荧光)
的
形式放出能量。
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第3题
[简答题] 利用
X
射线
荧光
光谱
技术对元素进行定性和定量
分析
的
理论
依据
是什么?
X
射线
荧
光谱
所
分析
的
元素范围一般从铍(B)—铀(U),
为
什么不能
分析
轻元素(氢、氦和锂)?
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第4题
[判断题] 在
X
射线
荧光
光谱
分析
中
,样品
中
除
分析
元素以外
的
全部元素
为
基体,基体元素对
分析
元素
的
影响叫基体效应。
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第5题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
中
,连续
光谱
激发样品时,连续
光谱
中
的
散
射线
是构成背景
的
主要来源,会影响
分析
元素
的
检测限,尤其对痕量元素。
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第6题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
内标法,即把一定量
的
内标元素加入到标准试料及
分析
试料
中
,以标准试料
中
分析
元素与内标元素
的
X
射线
荧光强度比与
分析
元素含量绘制校准曲线。测定
分析
试料
的
分析
元素与内标元素
的
X
射线
荧光强度比,从校准曲线求得
分析
元素含量。
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第7题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
中
,适当选择
分析
晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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第8题
[填空题] 采用
X
射线
荧光
光谱
法
分析
粉末样品,造成
分析
误差
的
因素
中
,粒度效应和()占很大比例。
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第9题
[]
X
射线
荧光
光谱
分析
中
,
X
射线
光强度和管电压V
的
平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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