A、杂质沉淀
B、位错
C、层错
D、空位
A、3 B、4 C、5 D、6
A、微观缺陷 B、宏观缺陷 C、表面机械损伤 D、点阵应变
A、光检测器，光放大器，激光器 B、PIN光电二极管，APD雪崩二极管 C、半导体激光器，光电检测器，发光二极管 D、半导体激光器LD，半导体发光二极管LED
A、半导体本身所固有的特性 B、外界温度的影响 C、零点电位不准造成的 D、半导体制造工艺的缺陷 E、传感器中各电路元件的热量 F、不等位电势引起的
A、温度 B、掺杂工艺 C、掺杂浓度 D、晶格缺陷
A、处于绝对零度 B、不含任何杂质 C、不含任何缺陷 D、不含施主
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