A、超声波探伤 B、磁粉探伤 C、荧光探伤 D、着色探伤
A、裂纹 B、成分不均匀 C、偏析 D、组织
A、射线探伤 B、超声波探伤 C、涡流探伤 D、射线探伤或超声波探伤
A、A.超声波 B、B.超声波和磁粉 C、C.外观 D、D.磁粉
A、5mm-30mm B、10mm-35mm C、8mm-35mm D、5mm~35mm
A、A.①②③⑤ B、B.①②③ C、C.②⑤⑥ D、D.④⑤⑥
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