A、轴线与被测件表面垂直,测头抵住被测表面 B、轴线与被测件表面平行,测头抵住被测表面 C、接触被测表面 D、测头抵住被测表面
A、应变片 B、热敏电阻 C、气敏电阻 D、湿敏电阻
A、用来测量工件被测表面相对其垂直基准面的垂直度误差 B、用来测量工件基准面相对其垂直被测表面的垂直度误差
A、A.半导体气敏元件式 B、B.接触燃烧式 C、C.电化学式
A、A.被测设备环境温度相对增大时,绝缘电阻降低 B、B.被测设备表面脏污会使其绝缘电阻显著下降 C、C.被测设备停电后,放电的残余电荷或试验后放电的残余电荷,造成试验或再次试验的绝缘偏大或偏小 D、D.电容耦合,带电设备将使被测的设备带上一定的感应电压,将影响其绝缘电阻测量值
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