A、较低频探头
B、较粘的耦合剂
C、软保护膜探头
D、以上都对
A、A.X射线探伤法 B、B.磁粉探伤法 C、C.着色探伤法 D、D.超声波探伤法
A、用超声波检查,不用判断缺陷时采用射线探伤 B、用射线探伤检查,不用判断缺陷时采用超声波 C、先用超声波检查.再用射线探伤 D、先用射线探伤,再用超声波检查
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