【单项选择题】
110(66)~750kV盘形瓷绝缘子零值检测检测周期为()
A、A.1年
B、B.2年
C、C.3年
D、D.4年
A、A.1年
B、B.2年
C、C.3年
D、D.4年
A、A.条件不具备时,进行红外热像精确测温,着重温度分布的测量 B、B.采用轮试的方法,即每年检测一部分,一个周期内完成全部普测 C、C.如某批次的盘形瓷绝缘子零值检出率明显高于运行经验值,则对于该批次绝缘子应酌情缩短零值检测周期 D、D.自上次检测以来又发生了新的闪络、或有新的闪络痕迹的,也应列入最近的检测计划
A、110kV线路绝缘子累积劣化绝缘子2片 B、220kV线路绝缘子累积劣化绝缘子3片 C、330kV线路绝缘子累积劣化绝缘子3片 D、500kV线路绝缘子累积劣化绝缘子8片 E、750kV线路绝缘子累积劣化绝缘子12片
A、A.5000V,500MΩ,500MΩ,500MΩ B、B.5000V,1000MΩ,1000MΩ,1000MΩ C、C.2500V,500MΩ,500MΩ,500MΩ D、D.2500V,1000MΩ,1000MΩ,1000MΩ