【单项选择题】
35kV及以下设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测基准周期:()年。
A、A.1
B、B.2
C、C.3
D、D.4
A、A.1
B、B.2
C、C.3
D、D.4
A、A.条件不具备时,进行红外热像精确测温,着重温度分布的测量 B、B.采用轮试的方法,即每年检测一部分,一个周期内完成全部普测 C、C.如某批次的盘形瓷绝缘子零值检出率明显高于运行经验值,则对于该批次绝缘子应酌情缩短零值检测周期 D、D.自上次检测以来又发生了新的闪络、或有新的闪络痕迹的,也应列入最近的检测计划