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【简答题】
简述X射线荧光光谱分析的优点。
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第1题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
内标法,即把一定量
的
内标元素加入到标准试料及
分析
试料中,以标准试料中
分析
元素与内标元素
的
X
射线
荧光
强度比与
分析
元素含量绘制校准曲线。测定
分析
试料
的
分析
元素与内标元素
的
X
射线
荧光
强度比,从校准曲线求得
分析
元素含量。
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第2题
[填空题]
X
射线
荧光
光谱
法
的
分析
过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后
的
各单色
X
射线
荧光
进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量
分析
结果。
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第3题
[简答题]
简述
X
射线
荧光
光谱
分析
的
基本原理和主要用途。
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第4题
[简答题] 利用
X
射线
荧光
光谱
技术对元素进行定性和定量
分析
的
理论依据是什么?
X
射线
荧光
谱所
分析
的
元素范围一般从铍(B)—铀(U),为什么不能
分析
轻元素(氢、氦和锂)?
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第5题
[判断题]
X
射线
荧光
分析
中特征
X
射线
光谱
的
产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子
的
能量激发,第二步则是以特征
X
射线
(
荧光
)
的
形式放出能量。
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第6题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
中,连续
光谱
激发样品时,连续
光谱
中
的
散
射线
是构成背景
的
主要来源,会影响
分析
元素
的
检测限,尤其对痕量元素。
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第7题
[]
X
射线
荧光
仪在以
X
射线
管作为激发源时,原级
X
射线
光谱
中特征
光谱
是用于激发样品
的
主要光源。
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第8题
[]
X
射线
荧光
光谱
分析
中,
X
射线
光强度和管电压V
的
平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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第9题
[判断题]
X
射线
荧光
光谱
分析
中,适当选择
分析
晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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