A、显影液的条件
B、每克物质的电子数
C、X线的能量
D、物质的密度
A、X线的能量 B、物质的密度 C、显影液的条件 D、每克物质的电子数
A、A．CT的成像过程与X线的基本特征无关 B、B．X线的吸收和散射有光电作用和康普顿效应 C、C．X线衰减的强度大小通常与物质的每克电子数无关 D、D．X线衰减的强度大小通常与源射线的能量大小无关 E、E．X线衰减的强度大小通常与物质的原子序数无关
A、材料的原子序数 B、入射能量 C、材料厚度 D、材料的密度 E、材料熔点
A、A.X线强度是指管电压的高低 B、B.KVP代表X线的质，mAs代表X线的量 C、C.影响X线强度的因素有靶物质、管电压、管电流、高压波形、滤过方式等
A、X线量子波动 B、探测器因素 C、电子电路 D、被照体结构 E、胶片的结构
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