A、低于 B、高于 C、等于 D、不确定
A、杂质缺陷 B、热缺陷 C、点缺陷 D、面缺陷
A、A、电阻升高B、电子状态改变C、发生点阵畸变D、强度升高此题为多项选择题。
A、缺陷横截面积较大，且较接近探测表面 B、缺陷横截面积较大，且较接近底面 C、缺陷横截面积较小，但较接近探测表面 D、缺陷横截面积较小，但较接近底面
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