A、RMS
B、WS
C、OTF
D、ACF
E、NEQ
A、A.RMS B、B.WS C、C.OTF D、D.ACF E、E.NEQ
A、X线量子波动 B、探测器因素 C、电子电路 D、被照体结构 E、胶片的结构
A、描述噪声特性 B、测量RMS需要显微密度计 C、可以用于比较不同屏-片组合的噪声特性 D、RMS越大,系统噪声越大 E、以上都不对
A、计算机X线摄影系统 B、数字X线摄影系统 C、数字减影血管造影系统 D、计算机体层成像设备 E、数字荧光X线摄影系统
A、均值 B、方差 C、宏观税负 D、计税收入
A、光学成像和数字成像 B、模拟成像与数字成像 C、针孔成像 D、化学成像和光学成像
A、数字成像 B、光学成像 C、模拟成像 D、针孔成像
A、完全不同的 B、相同的 C、基本相似 D、以上均对
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