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【判断题】

半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半(-6dB)作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。

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第2题

A、缺陷第一次反射F1幅高于距离-幅曲线  B、双晶探头检测时,缺陷第一次反射F1幅大于或等于显示屏高度的50%  C、底面第一次反射B1幅低于显示屏高度的50%,即B1<50%  D、以上都是  

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第4题

A、A.底面回高度  B、B.有缺陷处的底面回高度  C、C.无缺陷处的底面回高度  D、D.缺陷高度  

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第5题

A、缺陷高度  B、底面回高度  C、有缺陷处的底面回高度  D、以上都是  

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