A、标准电容有介损且大于被试品的介损
B、电场干扰
C、空间干扰
D、湿度影响
A、如果被测介质的密度发生变化，将会产生测量误差。 B、如果被测介质的质量发生变化，将会产生测量误差。 C、如果被测介质的温度发生变化，将会产生测量误差。 D、如果被测介质的发生变化，将会产生测量误差。
A、绝缘受潮缺陷 B、贯通性绝缘缺陷 C、绝缘老化缺陷 D、绝缘气隙放电缺陷
A、A.±10%、±1%、允许出现负值 B、B.±10%、±1%、不允许出现负值 C、C.±15%、±2%、不允许出现负值 D、D.±15%、±2%、允许出现负值
A、绝缘电阻测量； B、介质损耗测量； C、泄漏电流测量； D、直流电阻测量。
A、设备的绝缘结构 B、设备的绝缘状况 C、测量仪表的输出容量 D、绝缘介质的种类
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