A、多径衰落
B、时延扩展
C、多址干扰
D、远近效应
A、联合检测 B、TDD技术 C、上行同步 D、智能天线
A、TDD技术 B、智能天线 C、联合检测 D、上行同步
A、多径衰落 B、时延扩展 C、多址干扰 D、远近效应
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