A、表面细小等轴晶带 B、柱状晶带 C、中心等轴晶带
A、裂纹 B、气孔 C、偏析 D、夹杂
A、表面细晶粒区 B、中心等轴晶 C、柱状晶粒区 D、三个区影响相同
A、1% B、2% C、3% D、4%
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