测试询问信号进入应答机和测试询问的回答进入测试询问器分别通过()。
A、天线接收、天线耦合器
B、定向耦合器、定向耦合器
C、衰减器、衰减器
D、定向耦合器、天线耦合器
A、天线接收、天线耦合器
B、定向耦合器、定向耦合器
C、衰减器、衰减器
D、定向耦合器、天线耦合器
A、测试询问产生、测试信号的RF调制和衰减、回答定时、同步检测、参数测量和监视 B、测试询问产生和定时、回答检测、同步检测、参数测量和监视 C、测试询问产生和定时、测试信号的RF调制和衰减、全部回答定时、同步检测、参数测量和监视 D、测试询问产生和定时、测试信号的RF调制和衰减、全部回答脉冲的检测、同步检测、参数测量和监视
A、A.应答机识别是否由旁瓣询问,以判决是否给与回答 B、B.询问机识别是否由旁瓣接收的回答,并给予旁瓣接收的标志 C、C.询问机抑制旁瓣接收的回答 D、D.应答机抑制旁瓣接收的询问