A、电流 B、电场 C、工作电压 D、过电压
A、不应降低绝缘子串的绝缘特性 B、不应降低绝缘子串的机械强度 C、应满足风偏要求 D、不应产生局部放电
A、A.条件不具备时，进行红外热像精确测温，着重温度分布的测量 B、B.采用轮试的方法，即每年检测一部分，一个周期内完成全部普测 C、C.如某批次的盘形瓷绝缘子零值检出率明显高于运行经验值，则对于该批次绝缘子应酌情缩短零值检测周期 D、D.自上次检测以来又发生了新的闪络、或有新的闪络痕迹的，也应列入最近的检测计划
A、该绝缘子表面污秽程度严重 B、该绝缘子的绝缘电阻可能为10MΩ左右 C、该绝缘子可能为低值绝缘子 D、该绝缘子可能为零值绝缘子
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