A、 Io/Is B、 I/Is C、 Is/I D、 Io/I
A、窄束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器 B、宽束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器 C、窄束透照工件时，只有未散射的透过射线I到达检测器 D、以上B和C均正确
A、成本较低 B、分辨率交稿 C、能使X 射线不能透照成像的工件和材料呈像 D、透照工艺较X 射线简单
A、 变小 B、 变大 C、 不变 D、 以上都不对
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