A、绝缘老化 B、绝缘子闪络 C、沿面放电 D、绝缘子击穿
A、A.条件不具备时,进行红外热像精确测温,着重温度分布的测量 B、B.采用轮试的方法,即每年检测一部分,一个周期内完成全部普测 C、C.如某批次的盘形瓷绝缘子零值检出率明显高于运行经验值,则对于该批次绝缘子应酌情缩短零值检测周期 D、D.自上次检测以来又发生了新的闪络、或有新的闪络痕迹的,也应列入最近的检测计划
A、自爆 B、闪络 C、破损 D、掉串
A、可将该绝缘子打掉,进行相关倒闸将其隔离后 B、进行相关倒闸将其隔离后 C、可将该绝缘子擦试干净
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