A、表面缺陷
B、内部缺陷
C、外部缺陷
A、非破坏性检验和无损检验 B、射线探伤和磁粉探伤 C、超声波探伤和射线探伤 D、破坏性检验和非破坏性检验
A、射线检验 B、超声波探伤 C、磁粉探伤 D、渗透探伤
A、射线和着色 B、磁粉、着色和荧光 C、超声波和射线 D、超声波和磁粉
A、超声波检验 B、射线检验 C、磁粉检验 D、外观检验
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