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提问人:网友 发布时间:
【多选题】

测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。

A、整体受潮

B、整体劣化

C、小体积试品的局部缺陷

D、大体积试品的局部缺陷

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第1题

A、整体受潮  B、整体劣化  C、小体积试品局部陷  D、大体积试品局部陷  

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第4题

A、被测绕组本体  B、被测绕组对地  C、被测绕组对其它绕组  D、相邻绕组  

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第6题

A、介质损耗因数可以在工频电压下测量  B、可以在0.1Hz低频电压下测量测量电压为U0  C、可以在0.2Hz低频电压下测量测量电压为U0  D、试验方法参考GB/T3048.1  

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第8题

A、整体受潮  B、整体劣化  C、小体积试品局部陷  D、大体积试品局部陷  

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