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提问人:网友 发布时间:
【单选题】

GB/T7233-87标准规定;探伤面上进行扫查时,相邻两次扫查应相互重叠为约晶片尺寸的()

A、10%

B、15%

C、20%

D、以上都可以

更多“GB/T7233-87标准规定;探伤面上进行扫查时,相邻两次扫查应相互重叠为约晶片尺寸的()”相关的问题
第2题

A、JB/2Q6109-84  B、GB/T7233-87  C、JB4730-94  D、以上都是  

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第6题

A、平面型缺陷  B、非平面型缺陷  C、以上A或B  D、以上都不是  

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第7题

A、6dB法  B、绝对灵敏度法  C、以上A或B  D、以上A和B  

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