A、波长的一半
B、1个波长
C、1/4波长
D、若干波长
A、A.波长的一半 B、B.一个波长 C、C.四分之一波长 D、D.两倍波长
A、 波长的1/2 B、 1个波长 C、 1/4波长 D、 以上都可能
A、直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最容易探测到 B、直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最容易探测到 C、直接通电磁化时，与电流方向无关，任何方向的缺陷都能探出 D、用线圈法磁化时，与线圈内电流方向垂直的缺陷最容易探出
A、大于 B、等于 C、小于
A、作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据 B、为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具 C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证 D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
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