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【填空题】

磁粉探伤主要用于检测()材料的()及()部位的缺陷

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第3题

A、射线探伤;光谱分析;声发射检测;渗透探伤磁粉探伤  B、射线探伤;超声检测;声发射检测;渗透探伤磁粉探伤  C、射线探伤;超声检测;声发射检测;光谱分析  D、射线探伤;超声检测;光谱分析;渗透探伤磁粉探伤  

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第5题

A、A.射线探伤  B、B.磁粉探伤  C、C.渗透探伤  D、D.超声波探伤  

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第6题

A、RT(射线探伤)、PT(渗透探伤)  B、UT(超声波探伤)、MT(磁粉探伤)  C、ET(声发射检测)、PT(渗透探伤)  D、MT(磁粉探伤)、PT(渗透探伤)  

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第7题

A、材料Ⅰ不太适合用磁粉探伤  B、材料Ⅰ可以用干粉法磁粉探伤  C、材料Ⅱ可以用干粉法磁粉探伤  D、材料Ⅱ是磁性  

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