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【填空题】

检定分尺微分筒锥面的端面至固定套管毫米刻线右边缘的相对位置，是为了防止（）

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第1题

[简答题] 不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置？

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第2题

[判断题] 检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。

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第3题

[简答题] 不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的棱边至固定套管刻线面的距离？

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第4题

[填空题] 千分尺的测量下限调整至正确后，微分筒锥面的端面与毫米刻线的相对位置，离线不大于0.1mm或压线不大于（）

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第5题

[] 当零位调整整正确后，微分筒锥面的端面与固定套管横刻线的右边缘应相切，或离线不大于0.1毫米，压线不大于0.05毫米。

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第6题

[] 检定千分尺微分筒锥面端面棱边上边缘至固定套管纵刻线表面的距离，应至少使微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。

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第7题

[填空题] 当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。

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第8题

[判断题] 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。

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第9题

[] 千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。

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