A、提高到规定探伤灵敏 B、恢复到规定探伤灵敏 C、衰减到规定探伤灵敏 D、增益到规定探伤灵敏
A、Rm小可降低检测灵敏度,Cm小可提高灵敏度 B、Rm小可提高检测灵敏度,Cm小可提高灵敏度 C、Rm小可降低检测灵敏度,Cm小可降低灵敏度
A、检查探伤仪器的技术状态,校验探伤系统灵敏度 B、校验探伤系统灵敏度,系统探伤灵敏度复核 C、检查探伤仪器的技术状态系统探伤灵敏度复核 D、检查探伤仪器的技术状态,校验探伤系统灵敏度,系统探伤灵敏度复核
A、扫查灵敏度都高于基准灵敏度 B、扫查灵敏度比基准灵敏度高6dB C、扫查灵敏度都等于基准灵敏度 D、扫查灵敏度应根据表面状况、缺陷检测要求及探头类型等适当提高dB数(增益)
A、增加 B、降低 C、不变
A、缺陷磁痕可永久保留 B、能见断跟踪检测疲劳裂纹的产生和发展 C、与连续法配用,检测灵敏度高 D、检测速度快,成本低
A、3dB B、4dB C、5dB D、6dB
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